«Выставка MetrolExpo-2010 на ВВЦ»
6-я Международная выставка-конкурс средств измерений, испытательного и лабораторного оборудования
18-20 мая 2010г. в Москве на ВВЦ прошла 6-ая Специализированная выставка-конкурс «Метрология 2010» и 2-й международный симпозиум метрологов. Выставка была посвящена средствам измерений, испытательному и лабораторному оборудованию. Организаторами мероприятий выступили: Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии, при содействии Правительства Российской Федерации. Министерство промышленности и торговли РФ, Федеральное агентство по науке и инновациям РФ, Федеральное космическое агентство. В выставке приняли участие более 180 компаний из России и других стран мира.
В своем выступлении на официальной церемонии открытия выставки Заместитель руководителя Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии В.Н. Крутиков отметил, что выставка «Метрология-2010» является мощным стимулом и рычагом развития отечественной промышленности и позволяет установить новые деловые связи и контакты на международном рынке. Он выразил уверенность, что выставка будет способствовать расширению взаимовыгодного научно-технического сотрудничества, сближению интересов производителей, потребителей и поставщиков новых технологий и высокоэффективного оборудования, необходимых для успешного развития всего комплекса народного хозяйства нашей страны.
В павильоне № 55 ВВЦ, на площади более 3000 кв. метров были представлены экспозиции Метрологических центров, Государственных корпораций РОСНАНО, «Росатом», ОАО «РЖД», метрологических институтов.
![]() |
![]() |
В рамках выставки прошел Всероссийский симпозиум метрологов, посвященный 175-летию со дня принятия закона о российской системе мер и весов и приуроченный к Всемирному дню метрологии. Девиз симпозиума: «Measurements in Science and Technology a bridge to innovation» / «Измерения в науке и технике – мост к инновациям».
Организатором Симпозиума выступили Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии (Ростехрегулирование), Международное Бюро Мер и Весов (BIPM), Международная организация законодательной метрологии (OIML) и Европейская ассоциация национальных метрологических институтов (EUROMET).
В ходе симпозиума было заслушано множество докладов, посвященных истории становления отечественной системы обеспечения единства измерений, состоянию и перспективам развития Российской системы измерений, насущным проблемам в области метрологии, стандартизации и сертификации в различных отраслях промышленности. В симпозиуме принял участие генеральный директор ООО «Микрон» Куренков В.А.
![]() |
![]() |
На своих экспозициях участники выставки «Метрология 2010» представили широкий спектр средств измерений для всех отраслей промышленности, средств неразрушающего контроля, диагностического оборудования, испытательные стенды, системы учета и контроля, измерительные комплексы для сферы нанотехнологий, высокоточные промышленные станки, аналитические приборы, лабораторное оборудование и медицинские измерительные приборы.
Все участники и посетители выставки и симпозиума положительно оценили важность данного мероприятия для развития метрологической отрасли и отметили, что большой спектр компаний-участников и широкая номенклатура средств измерений, представленных на выставке, свидетельствует о набирающем темпе роста влияния метрологии в нашей стране на все сферы и направления хозяйственной деятельности.
Владимирскую область на выставке представляли ООО «Микрон» г. Кольчугино и НПО «Автоматика» г. Владимир.
Стенд ООО «Микрон» отражал направление деятельности компании в области метрологического обеспечения:
Калибровка и ремонт средств измерений; Контроль оборудования и материалов неразрушающими методами; Установка приборов учета тепловой энергии (теплосчетчиков); Разработка и внедрение автоматических измерительных систем учета и контроля энергоресурсов; Пусконаладочные и режимно-наладочные работы на котлах и печах; Изготовление электронных платформенных весов.
Изготовленные в ООО «Микрон» и представленные на стенде электронные платформенные весы пользовались особой популярностью у посетителей, их выпуск ООО «Микрон» освоил в 2009-2010 году.
Наш стенд посетили руководители и специалисты центров стандартизации, метрологии и сертификации, Росатома, предприятий ВПК, российских университетов и научно-исследовательских институтов, предприятий и организаций различных отраслей.
Не обошли своим вниманием наш стенд и руководители Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии.
|
Заместитель Руководителя Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии В.Н. Крутиков у стенда ООО «Микрон».
|
Начальник Управления метрологии Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии В.М. Лахов и генеральный директор ООО «Микрон» В.А. Куренков. |
|
Руководители Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии особо отметили вклад ООО «Микрон» и НПО «Автоматика» в развитие метрологии во Владимирской области. Подчеркнули необходимость расширения и развития рынка метрологических услуг. За активное участие в выставке ООО «Микрон» был удостоен дипломом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии. |
![]() |
Генеральный директор ООО «Микрон» Куренков В.А












