«Выставка MetrolExpo-2010 на ВВЦ»

6-я Международная выставка-конкурс средств измерений, испытательного и лабораторного оборудования

18-20 мая 2010г. в Москве на ВВЦ прошла 6-ая Специализированная выставка-конкурс «Метрология 2010» и 2-й международный симпозиум метрологов. Выставка была посвящена средствам измерений, испытательному и лабораторному оборудованию. Организаторами мероприятий выступили: Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии, при содействии Правительства Российской Федерации. Министерство промышленности и торговли РФ, Федеральное агентство по науке и инновациям РФ, Федеральное космическое агентство. В выставке приняли участие более 180 компаний из России и других стран мира.

В своем выступлении на официальной церемонии открытия выставки Заместитель руководителя Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии В.Н. Крутиков отметил, что выставка «Метрология-2010» является мощным стимулом и рычагом развития отечественной промышленности и позволяет установить новые деловые связи и контакты на международном рынке. Он выразил уверенность, что выставка будет способствовать расширению взаимовыгодного научно-технического сотрудничества, сближению интересов производителей, потребителей и поставщиков новых технологий и высокоэффективного оборудования, необходимых для успешного развития всего комплекса народного хозяйства нашей страны.

В павильоне № 55 ВВЦ, на площади более 3000 кв. метров были представлены экспозиции Метрологических центров, Государственных корпораций РОСНАНО, «Росатом», ОАО «РЖД», метрологических институтов.

В рамках выставки прошел Всероссийский симпозиум метрологов, посвященный 175-летию со дня принятия закона о российской системе мер и весов и приуроченный к Всемирному дню метрологии. Девиз симпозиума: «Measurements in Science and Technology a bridge to innovation» / «Измерения в науке и технике – мост к инновациям».

Организатором Симпозиума выступили Федеральное агентство по техническому регулированию и метрологии (Ростехрегулирование), Международное Бюро Мер и Весов (BIPM), Международная организация законодательной метрологии (OIML) и Европейская ассоциация национальных метрологических институтов (EUROMET).

В ходе симпозиума было заслушано множество докладов, посвященных истории становления отечественной системы обеспечения единства измерений, состоянию и перспективам развития Российской системы измерений, насущным проблемам в области метрологии, стандартизации и сертификации в различных отраслях промышленности. В симпозиуме принял участие генеральный директор ООО «Микрон» Куренков В.А.

На своих экспозициях участники выставки «Метрология 2010» представили широкий спектр средств измерений для всех отраслей промышленности, средств неразрушающего контроля, диагностического оборудования, испытательные стенды, системы учета и контроля, измерительные комплексы для сферы нанотехнологий, высокоточные промышленные станки, аналитические приборы, лабораторное оборудование и медицинские измерительные приборы. 

Все участники и посетители выставки и симпозиума положительно оценили важность данного мероприятия для развития метрологической отрасли и отметили, что большой спектр компаний-участников и широкая номенклатура средств измерений, представленных на выставке, свидетельствует о набирающем темпе роста влияния метрологии в нашей стране на все сферы и  направления хозяйственной деятельности.

Владимирскую область на выставке представляли ООО «Микрон» г. Кольчугино и НПО «Автоматика» г. Владимир.

Стенд ООО «Микрон» отражал направление деятельности компании в области метрологического обеспечения:

Калибровка и ремонт средств измерений; Контроль оборудования и материалов неразрушающими методами; Установка приборов учета тепловой энергии (теплосчетчиков); Разработка и внедрение автоматических измерительных систем учета и контроля энергоресурсов; Пусконаладочные и режимно-наладочные работы на котлах и печах; Изготовление электронных платформенных весов.

Изготовленные в ООО «Микрон» и представленные на стенде электронные платформенные весы пользовались особой популярностью у посетителей, их выпуск ООО «Микрон» освоил в 2009-2010 году.

Наш стенд посетили руководители и специалисты центров стандартизации, метрологии и сертификации, Росатома, предприятий ВПК, российских университетов и научно-исследовательских институтов, предприятий и организаций различных отраслей.

Не обошли своим вниманием наш стенд и руководители Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии.

Заместитель Руководителя Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии    В.Н. Крутиков у стенда ООО «Микрон».

Начальник Управления метрологии Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии В.М. Лахов и генеральный директор ООО «Микрон» В.А. Куренков.

 

       Руководители  Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии особо отметили вклад ООО «Микрон» и НПО «Автоматика» в  развитие метрологии во Владимирской области. Подчеркнули необходимость расширения и развития рынка метрологических услуг.

       За активное участие в выставке     ООО «Микрон» был удостоен дипломом Федерального агентства по техническому регулированию и метрологии.

 

Генеральный директор ООО «Микрон» Куренков В.А